厚度测试系统
OptiSurf® PRO AR 工业型波导厚度测量仪德国TRIOPTICS公司在单透镜、平面光学和光学系统的非接触低相干干涉测量方面拥有多年的经验。新研发的OptiSurf® PRO AR可用于测量其他平面光学元件和堆叠波导的几何特性。
OptiSurf® 镜面定位仪德国全欧光学(TRIOPTICS)设计的OptiSurf® 镜面定位仪用于高精度地测量光学系统中的光学元件的空气间隔和中心厚度。基于低相干干涉原理,采用非接触式测量,是光学系统装调中检测和控制空气间隔理想的工具。
OptiSurf® LTM 镜片厚度测量仪对于光学产品而言,高精度的光学系统需要高质量的单镜片。OptiSurf® LTM 镜片厚度测量仪是德国全欧光学(TRIOPTICS)为此开发的一款能很好的适用于不同产品的非接触式单镜片中心厚度测量系统。
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